無(wú)錫電池步入式老化試驗(yàn)房-步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室/高溫試驗(yàn)室/低溫試驗(yàn)室

JW-BRS系列步入式試驗(yàn)室適用于工業(yè)產(chǎn)品進(jìn)行濕熱試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)以及高低溫漸變?cè)囼?yàn)，具有極限溫（濕）度范圍廣、實(shí)際溫（濕）度精度高的特點(diǎn)，步入式試驗(yàn)室，工作室大，可供多種元器件、整機(jī)做溫度濕度試驗(yàn)，也可以走進(jìn)試驗(yàn)室作為生產(chǎn)設(shè)備，工作室尺寸可由客戶自定義，符合“環(huán)境試驗(yàn)十倍條件”系列標(biāo)準(zhǔn)條件。

特點(diǎn)

?新一代外觀設(shè)計(jì)，箱體結(jié)構(gòu)、控制技術(shù)均做較大改進(jìn)，安裝方便，技術(shù)指標(biāo)穩(wěn)定，運(yùn)行可靠，維護(hù)方便

?超大觸摸屏搖表式操作，外觀更加簡(jiǎn)潔大方，操作更加容易

?真空雙層玻璃：大視窗設(shè)計(jì)，飛利浦高亮度照明，加熱無(wú)霧氣

?記錄量大：SD卡儲(chǔ)存，USB輸出，電腦連接打印，大倉(cāng)有紙無(wú)紙記錄等選配

?可靠性高：主要配件選配著名專業(yè)廠商，保證提高整機(jī)可靠性

無(wú)錫電池步入式老化試驗(yàn)房-步入式恒溫恒濕試驗(yàn)室/高溫試驗(yàn)室/低溫試驗(yàn)室

技術(shù)參數(shù)

執(zhí)行滿足標(biāo)準(zhǔn)及試驗(yàn)方法

GBT10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-2008高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（溫度交變）

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫(IEC60068-2-1:2007)

GB/T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab:恒定濕熱試驗(yàn)(IEC60068-2-78:2001)

GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Db:交變濕熱12h+12h循環(huán)(IEC60068-2-30:2005)

GB/T2423.9-2001電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cb:設(shè)備用恒定濕熱(IEC60068-2-56)

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化(IEC60068-2-14)

GJB150.3A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：高溫試驗(yàn)

GJB150.4A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法第3部分：低溫試驗(yàn)

其他

?使用環(huán)境溫度：+5~+35℃

?安全：短路保護(hù)、缺水保護(hù)，超溫保護(hù)、操作人員安全保護(hù)、試件保護(hù)

附件標(biāo)準(zhǔn)配置

?照明燈：飛利浦

?測(cè)試孔：Φ50mm、（Φ60mm、Φ100mm非標(biāo)）

?高溫膠塞：按要求

?通訊：SD卡/USB/CF/以太網(wǎng)，按儀表選配